24.4    П 59     Порай-Кошиц, М. А.     Основы структурного анализа химических соединений [Текст] : [учеб. пособие для хим. спец. ун-тов] / М. А. Порай-Кошиц. - М. : Высш. шк., 1982. - 151 с. : ил. - Библиогр.: с. 146-147, 148. - 0.25 р.ББК 24.4я73 Кл.слова (ненормированные): ХИМИЯ -- АНАЛИТИЧЕСКАЯ ХИМИЯ -- СТРУКТУРНЫЙ -- АНАЛИЗ -- РЕНТГЕН -- ИЗУЧЕНИЕ В ВУЗЕ Аннотация: Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Предназначается для студентов химических специальностей университетов. Экземпляры всего: 1 ф10 (1) Свободных экз. нет